日本精密測定機器工業会からのお知らせです。
下記のとおり、校正の不確かさ、測定の不確かさ、合否判定の考え方に関するセミナーを開催します。多数の御参加をお待ちしております。
【日時】平成30年9月11日（火）13：00～16：30（受付開始12：30）
【場所】北越銀行本店２階講堂（新潟県長岡市大手通２－２－１４）
【定員】150名（先着）
【参加費】無料
【プログラム】
第一部：図面支持規格のグローバル化と設計・加工・検査のあり方
講師：東京大学大学院工学系研究科精密工学専攻 教授 高増潔 氏
第二部：ブロックゲージの構成方法及び校正不確かさの算出事例
講師：産業技術総合研究所長標準研究グループ長 尾藤洋一 氏
第三部：現場に役立つ不確かさの考え方と活用法
講師：新潟精機株式会社 技術本部 品質保証部 品質管理課 小林正毅 氏
第四部：光学式内径測定器（ＩＤＭ）の開発及び不確かさ要因
講師：株式会社 第一測範製作所 営業推進グループリーダー 桑原和寿 氏
【対象者】加工担当、校正担当、検査担当、設計担当、品質保証担当
【申し込み】
平成30年8月31日（金）までに申込書をＦＡＸ又はメールで日本精密測定機器工業会へ。
●案内チラシ・申込書
《問い合わせ・申込先》
日本精密測定機器工業会
〒105-0003 東京都港区西新橋３－１４－２ 柾木ビル３階
TEL：03-3434-9557 FAX：03-3434-1695
E-mail：info@jpmia.gr.jp
http://www.jpmia.gr.jp
